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防护等级-IPxx防水防尘试验
防护等级多以IP后跟随两个数字来表述,数字用来明确防护的等级。
第一个数字表明设备抗微尘的范围,或者是人们在密封环境中免受危害的程度。
第二个数字表明设备防水的程度-IPxx。
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    落尘/飞砂/雨淋/防水试验
    消费性产品最常引用规范为IEC/EN 60529(Degrees of protection provided by enclosure),规范中明定产品保护等级与试验程序及方法,目前采用的国家也越来越多。主要在保护产品不会被外界...
    Vibration Testing 更多 »
    振动试验
    当系统/模组遭受到振动环境时,在电路板上之零组件往往因为固定方式或结构设计之自然频率因素将进入之震动能量作数倍放大,而且对於小质量零组件而言其体积越小则自然频率越高,因此,对於质量轻且小的IC零组件进行震动试验时,通常以高频振动为...
    Thermal Cycling/Shock Testing 更多 »
    温度循环/温度衝击试验(Thermal Cycling /Shock)
    温度循环试验 (Thermal Cycling Test)

    在产品的生命週期中,可能面临各种环境的条件下,使得产品在脆弱的部份显现出来,造成产品的损伤或失效,进而影响到产品的可靠度。

    以每分钟5~15度的温变率...

    Salt Spray Testing 更多 »
    盐雾测试 (Salt Spray Test)
    盐雾测试以加速测试模拟金属在海岸环境下的抗腐蚀作用﹐此法也被误用在其他环境(如高湿或高酸性)之测试﹐宜谨慎使用。

    2.设备:(测试者可以自合格供应商处取得符合需求之设备﹐故相关叙述多所省略)

    a.chamb...

    Solar/ UV Test 更多 »
    阳光/紫外光照射试验(Solar/ UV Test)
    日光照射试验(Solar Radiation) 地球上大多数地区年平均空气温度通常介於 0℃ ~ +40℃之间,而在夏天时高温常介於+30℃ ~ +49℃之间,经常出现之平均高温为+43℃,此为环境温度(空气温度),太阳辐射热效...
    Key Life Test 更多 »
    按键寿命测试
    手机按键寿命测试仪是可对电脑、手机、计算器、记事本,键盘,开关等做寿命测试,尤其適用于硅橡胶类按键作疲劳测试;具有速度可调,次数任一设定及同时测试数个产品(每个产品均可多点测试),到达次数或掉电停机后保持数据。另每个按键可以设定不...
    Low Temperature Test 更多 »
    低温试验
    大多数地区年平均温度通常介於 0℃ ~ +40℃之间,一般冬天时低温常介於-32℃ ~ -46℃之间,-51℃出现机率则小於20%。

    对於消费性电子环境试验温度通常介於+5℃~ -5℃之间,网通类产品与工业用产品因使用...

    Temp/Low Air Pressure Test 更多 »
    温度/高空(减气压)试验
    温度/高空(低压)复合试验主要目的为模拟无压力控制下航空运输环境、航空电子、产品有高压、马达或气密性考量以及产品使用安装在高纬度国家地区等环境。在实务经验上由於在减气压(Low Air Pressure)环境下空气流动缓慢使得产品...
    Bump Test 更多 »
    碰撞试验(Bump Test)
    碰撞试验之目的在於检查产件於运输或使用过程中遭受重复性衝击所累积应力承受能力。通常会议产品包装或是未包装形式进行碰撞试验,此试验为引起重复颠簸及剧烈的晃动或碰撞,并依距离、道路状態、车辆、拖车等运输之型式而以不同週期出现并具复杂...
    Drop Test 更多 »
    落下试验(Drop Test)
    落下试验之目的通常为模拟两种落下情况,一种为产品在运输过程中因装载或搬运不慎造成掉落地面所遭受之撞击,此种掉落环境通常产品为包装状態(Package),另一种环境系针对手持型产品(Hand Held Product)在未包装保护...
    下压试验的目的主要为模拟产品於生产、运输和实际使用时可能受到机械外应力的影响,致为主流后,裸晶的应用使得下压试验越受到重视,最主要的原因为裸晶产品从生产测试到成品组装过程,因其相对脆弱,所以更易受到损伤,故下压试验成可靠度测试焦点之一。

    不仅对於

    当系统/模组遭受到衝击环境时(shock environmental),在电路板上之零组件往往因为固定方式或结构设计之自然频率因素将由系统所传递进入之衝击能量作数倍放大,而且对於小质量零组件而言其体积越小则自然频率(Nature frequency)越高。因
    落下试验之目的通常为模拟两种落下情况,一种为产品在运输过程中因装载或搬运不慎造成掉落地面所遭受之撞击,此种掉落环境通常产品为包装状態(Package),另一种环境系针对手持型产品(Hand Held Product)在未包装保护状態下因使用不当而使产品掉落地
    当系统/模组遭受到振动环境时,在电路板上之零组件往往因为固定方式或结构设计之自然频率因素将进入之震动能量作数倍放大,而且对於小质量零组件而言其体积越小则自然频率越高,因此,对於质量轻且小的IC零组件进行震动试验时,通常以高频振动为主要测试条件,对於被动零组件在
    1932年,Motorola将真空管应用於汽车上,1967年德国Bosch将IC应用於汽车燃油喷射系统,从此开启了汽车电子的时代。现今,智慧型IC应用在燃油喷射控制、定速控制、ABS煞车、传动控制装置等不胜枚举,台湾产业发展亦逐渐从资讯电子进入消费性电子、光通
    碰撞试验之目的在於检查产件於运输或使用过程中遭受重复性衝击所累积应力承受能力。通常会议产品包装或是未包装形式进行碰撞试验,此试验为引起重复颠簸及剧烈的晃动或碰撞,并依距离、道路状態、车辆、拖车等运输之型式而以不同週期出现并具复杂与随机性质。

    碰撞

    消费性产品在生命週期中通常在两种情况下会遭受到衝击,一种为运输过程中因为车辆行走於颠坡道路产生碰撞(Bump)与跳动(Bounce)或因人员搬运时掉落地面所产生之撞击。对於手持型产品(如手机、PDA等)在未受缓衝保护所遭受到之掉落衝击对产品危害更大。对於安装於
    11高加速寿命试验稽核与筛选(HALT/ HASA/ HASS)
    12温度/高空(减气压)试验
    13低温试验
    14按键寿命测试
    15阳光/紫外光照射试验(Solar/ UV Test)
    16盐雾测试 (Salt Spray Test)
    17温度循环/温度衝击试验(Thermal Cycling /Shock)
    18震动试验(Vibration Test)
    19防护等级-IPxx防水防尘试验